| 序號(hào) | 代碼 | 股票名稱 | 說明 |
| 1 | SZ300567 | 精測(cè)電子 | 膜厚量測(cè)系統(tǒng)、光學(xué)關(guān)鍵尺寸量測(cè)系統(tǒng)、電子束缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、光學(xué)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、Memory老化（Burn-In）測(cè)試設(shè)備、Memory 晶圓探測(cè)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（CP ATE）、Memory最終測(cè)試自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（FT ATE）、鋰電池檢測(cè)和生產(chǎn)設(shè)備 |